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XS 系列・掃描測量儀

XS 系列・掃描測量儀

XS 系列-掃描測量儀是一種用於高效獲取物體表面三維幾何數據的精密測量設備,非接觸式測量不會損傷物體表面,且可測量複雜幾何形狀;關鍵性能指標包含測量精度(微米級)、解析度、掃描速度及適應性
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描述
技術參數

產品摘要

 

XS 系列-掃描測量儀是一種用於高效獲取物體表面三維幾何數據的精密測量設備,非接觸式測量不會損傷物體表面,且可測量複雜幾何形狀;關鍵性能指標包含測量精度(微米級)、解析度、掃描速度及適應性,廣泛應用於工業製造、品質控制、逆向工程等領域。隨著技術進步,設備逐漸走向智慧化、便攜化,並融合 AI 數據處理技術,推動智慧製造與精密檢測領域的發展。

 

產品特性

1

掃描測量儀採用精密花崗石基座,結構穩定。

2

可多片同時自動作業,任意排滿台面,中途無需人工參與。

3

高精度光學量測系統,同時兼顧高效率與高精度。

4

0.1µm 光學尺定位,精准度及穩定性極佳。

5

可適用於測量 PCB 軟板、硬板、HDI、陶瓷板、玻璃、金屬、模切膠片等各種材料

6

掃描測量儀自動定位位置,避免人工取位誤差。

7

數據運算技術:測量千個尺寸僅需 3-5 秒。

產品應用

 

●應用行業:金屬製品加工業、模具、塑膠、五金、齒輪、玻璃、工業等行業的檢測。

●工業領域:產品開發、模具設計、手板製作、原版雕刻、RP 快速成型、電路檢測。

 

XS 系列-掃描測量儀以低成本提供可靠的精密測量解決方案,尤其適用於中小企業或研發場景。若需更高效的測量需求,請諮詢惠州市中科先進製造有限公司。

 

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產品規格

 

● 測量方式:線掃描

● 測量速度:1 萬以上尺寸僅需 3 秒

 

產品模型

 

型號

XS600

XS800

XS1000

測量行程(mm)

500*600*150

600*800*150

800*1000*150

精度(µm)

2+L/200

2.5+L/200

3+L/200

速度

600mm/1秒