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MPC 超微顆粒除塵機

MPC 超微顆粒除塵機

MPC 超微顆粒除塵機是用於 CMOS 圖像感測器的全自動定向乾式除塵系統,配備高解析度相機可辨識超微顆粒異物,並引導粘塵機構高精度定向除塵。
發送詢盤
描述
技術參數

產品摘要

 

MPC 超微顆粒除塵機是用於 CMOS 圖像感測器的全自動定向乾式除塵系統,配備高解析度相機可辨識超微顆粒異物,並引導粘塵機構高精度定向除塵,可去除基板 / Sensor 上大於 700nm 的異物。該機配備高速伺服模組,依產能可選單 / 雙工位,最高產能大於 5000pcs/h,可輸出報表、生成 MAP 圖,同時數據可上傳客戶 MES 系統。

 

產品功能

 

灰塵檢查及清除、DB 檢測

 

產品特性

1

基準環境:(36pcs / 料盤,10% 灰塵率

2

單工位:>2500pcs/h;雙工位:>5000pcs/h

3

MPC 超微顆粒除塵系統(CMOS 圖像感測器專用)自動檢查、準確辨識

4

干法清潔,無殘留、無污染

Semiconductor inspection equipment Inspection process

半導體檢查設備檢查過程

 

產品應用

 

半導體(光學模組、Wafer)

封測行業(Sensor、IR 片、IC 封測、指紋模組)

 

MPC 超微顆粒除塵機可顯著提升生產效率與良率,替代傳統人工抽檢,尤其適合高附加價值產品的批量製造。如須更高效的解決方案,請諮詢惠州市中科先進製造有限公司。

 

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技術參數

 

● 檢測精度:>0.6μm

● 可動灰塵去除率:>99.9%

 

產品規格

 

設備尺寸

W1200mm*D1100mm*H1850mm

設備重量

1000kg